利用SEM、EDS等技术对电阻焊薄壁铜铝管焊接界面进行研究,并结合Cu-Al二元相图进行界面分析。研究结果表明在铜铝连接管的焊接界面处,铜与铝进行原子的互扩散,且铜原子向铝侧扩散的深度比铝原子向铜侧扩散的深度要大。对界面进行背散射电子分析和能谱分析,发现界面存在柱状晶形貌的CuAl2相和呈灰白相间的层片状的α-Al与CuAl2的共晶。讨论柱状晶与共晶组织的形成与性能,并分析其对接头性能的影响。

分析微观结构对性能可能存在的影响,希望找出铜铝连接管性能与焊接工艺的联系,从而优化铜铝连接管焊接的工艺,提高电阻压焊焊接接头的质量。同时对铜铝连接管进行了中性盐雾腐蚀试验,研究了铜铝连接管的腐蚀状况,从而得出铜铝连接管在海洋大气下的耐腐蚀能力。研究结果表明: 1、铜铝连接管界面位于靠近外表面焊缝5mm区域范围内结合强度高,不容易撕裂;而在外表面焊缝5mm区域范围之外的一段铜铝管连接处,界面过渡层较宽,结合强度不高,容易撕裂,而且还存在气孔等缺陷。铜铝两侧发生了原子的互扩散,且